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FLM拼接型闪测仪

产品介绍
一、规格参数
型号FLM32ACFLM43ACFLM54AC
XY轴测量范围(mm)300*200400*300500*400
Z轴移动范围(mm)200
单视野测量范围87*58
外部尺寸(mm)700x850x1750
重量(kg)320
承重(kg)3
图像传感器2000万像素工业相机
镜头双远心光学镜头
倍率0.151X
测量精度(μm)±(3+L/200) *以标准块为被测产品
最小显示单位(mm)0.0001
景深(mm)8
Z轴工作距离(mm)150mm
光源1000级程控光源。
轮廓光:远心平行光源
表面光:环形光,外接同轴光
图像处理IVT先进图像分析方法,256灰度等级,20:1亚像素处理技术
软件IVT-VISION-OneKey
工作环境温度:22℃±2℃ 湿度:30~80%
振动:<0.002mm/s,<15Hz
电源220V/50Hz

二、仪器特点

1、打破传统的测量工具。


2、大口径高景深,实现全视野范围成像清晰,低畸变。

3、高分辨率相机,采用1200万-4300万像素高分辨率数字相机。
4、软件采用先进的20:1亚像素图像边缘处理。

5、最小二乘法回归处理可自动祛除毛刺和异常点,对特征位置的影响降至低点。

6、高效的批量测量 测量范围内一次性可测量大于20000个尺寸,100个尺寸测量时间小于1秒,大幅缩短测量时间,提高测量效率。

7、多个工件任意摆放,自动识别,批量测量。

三、软件特点

完全自主研发,软件界面简洁、功能强,易学习;采用我司自主研发的畸变校正技术,保证在视野的各位置、各角度测量结果稳定精准;自主研发的图像拼接技术,保证拼接误差小于0.003mm。

1、自动匹配工件,任意放置,一键测量。可自动搜索匹配并调出用户程序。可框选建立匹配、多个位置框选组合建立匹配、用测量元素建立匹配、可导入CAD建立匹配。可建立程序组,实现工件多个面翻面测量。

2、全面的测量元素:

点、最高点、线、最高线、圆(中心坐标,半径、直径、真圆度、周长、面积,最大半径、最小半径)、弧、矩形(中心坐标,长、宽、周长、面积)、椭圆(中心坐标,长轴、短轴、周长、面积)、键槽(中心坐标,长、宽、周长、面积)、导入CAD轮廓扫描比对、轮廓PV、面积对比、圆柱直径、密封圈(通过周长计算半径、密封圈最大半径、最小半径、厚度)、测量结果再计算(最大值、最小值、平均值、求和)、二维码识别、条码识别。

3、标注:

距离、X距离、Y距离、半径、直径、角度。

4、形状误差评定:

直线度、圆度。

5、位置误差评定:

平行度、垂直度、对称度、同心度、位置度。

6、坐标系转换

笛卡尔坐标(X,Y)与极坐标(R,θ)可方便选择。可即时转换测量值的基本单位mm、inch、mil。 坐标平移、坐标旋转,建立工件坐标系。

7、测数据

可以自定义EXCEL模板,可以指定输出单元格。软件自带CPK模板,可以计算Mean、Maximum、Minimum、Cp、Cpkl、Cpku、Cpk。

8、其他

①软件语言:多国语言可选,语言包开放,可定义翻译修改。

②图像和绘图区共用,所见即所得,可自定义:颜色、线宽、字体大小、背景颜色。

③对焦辅助、灯光辅助功能,减少人为误差。

④合格/不合格(OK/NG),并报警提示,可语音输出:OK、NG。

⑤可快速扫描轮廓,并导出到CAD,与原始图档比对。

⑥可选配IO卡,外触发测量并OK NG 信号输出。

9、SPC:

包括:直方图、Cpk趋势图、X控制图、Xbar-R控制图、Xmedian-R控制图、X-Rs控制图。



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